Надорожняк, Х. О., et al. «Метрологічний аналіз та метрологічне забезпечення атомно-силової мікроскопії». METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, вип. 1(26), Травень 2011, с. 77-84, https://www.mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195.