Надорожняк, Х. О. (2011) «Метрологічний аналіз та метрологічне забезпечення атомно-силової мікроскопії», METHODS AND DEVICES OF QUALITY CONTROL, (1(26), с. 77–84. доступний у: https://www.mpky.nung.edu.ua/index.php/mpky/article/view/195 (дата звернення: 19 Грудень 2025).